+8618117273997weixin
Inggris
中文简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt ja 日本語

Probe/Baji Aksesibilitas (S5366 + S5370) UL 60950-1 Gambar NAF.2 & NAF.3

Nomor Produk: SMT-S113

Tinggalkan pesan

=
  • Deskripsi Produk
  • 1. Standar referensi:

    UL60950 Gambar NAF2 dan NAF3

    Probe baji UL 60950 untuk penghancur kertas

    2. Detail Produk:

    Produk ini digunakan untuk menguji akses ke penghancur dokumen. Jointed Accessibility Wedge Probe adalah probe presisi tinggi yang dibuat sesuai dengan standar UL dan IEC seperti UL60950 Figure NAF2 dan NAF3.

    Probe/Baji Aksesibilitas (S5366 + S5370) UL 60950-1 Gambar NAF.2 & NAF.3

    Probe/Baji Aksesibilitas (S5366 + S5370) UL 60950-1 Gambar NAF.2 & NAF.3

    Tags: ,